Анализ ферромагнитных пленок с помощью системы исследования магнитооптического эффекта Керра и спектрального эллипсометрастатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 апреля 2022 г.
Аннотация:Проведены исследования образца ферромагнитной пленки Fe10Ni74Co16 толщиной 30 нм после ее осаждения и двух размагничивающих получасовых вакуумных отжигов при температурах 400 и 600 °С. Характеристики пленки, в том числе коэрцитивная сила и поле анизотропии, а также их изменения после отжигов определяли с помощью системы исследования магнитооптического эффекта Керра и спектрального эллипсометра. Показано, что сигнал спектрального эллипсометра Is реагирует на структуру пленки Fe10Ni74Co16, изменяющуюся при вакуумном отжиге. Причем изменение сигнала Is на длинах волн l, равных 450 и 650 нм, практически в два раза больше, чем на длинах волн l, равных 550 и 750 нм.