|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Percent-Level Accuracy in Measuring Strong-Field Photoionization and Laser Intensityтезисы доклада Электронная публикация Тезисы
- Авторы: Wallace W.C., Ghafur O., Khurmi C., Sainadh S., Calvert J.E., Pullen M., Litvinyuk I.V., Sang R.T., Kielpinski D., Bartschat K., Grum-Grzhimailo A.N., Wells D., Quiney H., Tong X.
- Сборник: Proceedings of International Conference on Ultrafast Phenomena (17–22 Santa Fe, New Mexico, United States)
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 39
- Последняя страница: 39
- DOI: https://www.osapublishing.org/abstract.cfm?URI=UP-2016-UTh4A.29
- Аннотация: We present percent-level accurate ionisation yields of atomic hydrogen, argon, krypton, and xenon by few-cycle lasers. From these measurements, a peak laser intensity calibration standard is derived, accurate to 1.3% in the 1014 W/cm2 regime.
- Добавил в систему: Грум-Гржимайло Алексей Николаевич