|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Исследование кореляции эмиссионных и структурных характеристик алмазных пленок методом сканирующей туннельной микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Рахимов А.Т., Самородов В.А., Солдатов Е.С., Суетин Н.В., Тимофеев М.А., Трифонов А.С., Ханин В.В.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 7
- Год издания: 1999
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 47
- Последняя страница: 51
- Добавил в систему: Самородов Владимир Анатольевич