|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Visualization of atomic structure using AFM: Theoretical descriptionстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 октября 2013 г.
- Авторы: Gallyamov M.O., Yaminsky I.V.
- Журнал: PHYSICS OF LOW-DIMENSIONAL STRUCTURES
- Номер: 3-4
- Год издания: 2001
- Первая страница: 217
- Последняя страница: 222
- Аннотация: We suggest a simple model of image formation in the atomic force microscope (AFM) taking into account the contact deformation of both probe and sample during scanning. The model explains the possibility of AFM visualization of regular atomic or molecular structures when the probe-sample contact area is greater than the area per atom or molecule in surface lattice. (This is usually the case when the lattice to be studied has subnanometer unit cell parameters and AFM investigations are carried out in air in contact mode). Two special features of the AFM visualization of two-dimensional lattices could be observed under such conditions: 1) inversion of the contrast of AFM images, and 2) visualization of "false atom" under single atomic vacancies of the surface studied.
- Добавил в систему: Галлямов Марат Олегович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | 1104.4567v1.pdf | 170,6 КБ | 27 апреля 2013 [Marat_glm] |