|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Изучение плотности состояний О(F)2s,2р-электронов в ThO2 и ThF4 рентгеноспектральными методамистатья
- Авторы: Тетерин А.Ю., Рыжков М.В., Тетерин Ю.А., Курмаев Э.З., Маслаков К.И., Иванов К.Е., Федоренко В.В., Елохина Л.В.
- Журнал: Известия Академии Инженерных Наук им. А.М. Прохорова
- Номер: 1
- Год издания: 2013
- Первая страница: 73
- Последняя страница: 79
- Добавил в систему: Тетерин Юрий Александрович