|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Scanning tunneling microscope - A nanoelectronic measuring instrumentстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Bychikhin S.A., Gallyamov M.O., Potemkin V.V., Stepanov A.V., Yaminskii I.V.
- Журнал: Measurement Techniques
- Том: 41
- Номер: 4
- Год издания: 1998
- Издательство: Springer Science+Business Media, LLC.
- Местоположение издательства: New York, NY, United States
- Первая страница: 383
- Последняя страница: 388
- DOI: 10.1007/BF02504025
- Аннотация: The advantages of using the scanning tunneling microscope for accurate measurements when solving problems in nanotechnology are considered. The results of noise measurements made using the scanning tunneling microscope are presented and it is shown that the fundamental limitation on the spatial resolution along the normal to the surface of the sample being investigated is due to low-frequency fluctuations of the tunnel current. The limit sensitivity of the microscope is determined.
- Добавил в систему: Галлямов Марат Олегович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | полный текст | fulltext.pdf | 428,2 КБ | 28 июня 2016 [Marat_glm] |