|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF THIN SENSOR FILMS OF COPPER PHTHALOCYANINE-POLYSTERENE COMPOSITEстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
- Авторы: Stukalov O.M., Misevich A.V., Pochtennyi A.E., Gallyamov M.O., Yaminsky I.V.
- Журнал: Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 16
- Номер: 11
- Год издания: 2001
- Первая страница: 1819
- Последняя страница: 1822
- Аннотация: The influence of annealing on the structure of thin sensor films of the copper phthalocyanine (CuPc) and polysterene (PS) films obtained by laser sputtering in a vacuum has been studied by AFM. The recrystallization of CuPc as needle-like crystallites has been found at annealing temperatures higher than 200°C. The film annealed at 200°C exhibits the CuPc and PS phases, and that annealed at 250°C contains no polymeric phases most likely due to the evaporation of polymer. The improvement of the sensor properties of the composite films after annealing as compared to those of the films of pure CuPc is explained by their porous structure and a larger effective surface area.
- Добавил в систему: Галлямов Марат Олегович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | english version | pover04_SI.pdf | 1,9 МБ | 15 июля 2013 [Marat_glm] |
| 2. | Полный текст | русская версия | Poverh11_00StukalovLO.pdf | 349,6 КБ | 15 июля 2013 [Marat_glm] |