Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Метод получения объемных характеристик микроструктуры в РЭМ по сериям дефокусированных изображений и стереоизображениям
тезисы доклада
Авторы:
Соколов В.Н.
,
Разгулина О.В.
,
Юрковец Д.И.
,
Чернов М.С.
Сборник:
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
Тезисы
Год издания:
2013
Место издания:
ИПТМ РАН Черноголовка
Первая страница:
412
Последняя страница:
412
Добавил в систему:
Соколов Вячеслав Николаевич