|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Исследование характеристик системы нанопор в структуре SiO2/Si, полученных методом имплантации ионами цинкатезисы доклада
- Авторы: Привезенцев В.В., Петров Д.В., Соколов В.Н., Разгулина О.В.
- Сборник: Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
- Тезисы
- Год издания: 2013
- Место издания: ИПТМ РАН Черноголовка
- Первая страница: 402
- Последняя страница: 403
- Добавил в систему: Соколов Вячеслав Николаевич