|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
From first STM to complex analysis systems - 30 years' experience of R&D and production of metrological equipmentтезисы доклада
- Авторы: Bykov Victor, Polyakov Vyacheslav, Bykov Andrey V., Kotov Vladimir, Leesment Stanislav, Bobrov Yuri
- Сборник: Fifth Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials ASCO-NANOMAT 2020
- Тезисы
- Год издания: 2020
- Место издания: Dalnauka Publishing г. Владивосток
- Добавил в систему: Никишин Игорь Игоревич