Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение термоиндикаторов для исследования надежности и прогнозирования отказов полупроводниковых приборов
статья
Авторы:
Левченко В.А.
,
Алтоиз Б.А.
,
Шибаева Е.Ю.
Сборник:
Физические основы надежности и деградации полупроводниковых приборов
Год издания:
1985
Место издания:
Кишинев Молдова
Первая страница:
135
Последняя страница:
136
Добавил в систему:
Левченко Владимир Анатольевич