|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Effect of Annealing Temperature on the Crystal Phase Fraction in Silicon Nanoclusters in a Silicon Oxide Matrixстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 ноября 2013 г.
- Авторы: Emel’yanov V.I., Seminogov V.N.
- Журнал: Technical Physics Letters
- Том: 32
- Номер: 12
- Год издания: 2006
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 1051
- Последняя страница: 1053
- DOI: 10.1134/S1063785006120169
- Аннотация: A model of the annealing-induced crystallization of amorphous clusters in a solid matrix is proposed. The calculated dependence of the crystallized phase fraction on the annealing temperature agrees with the available experimental data.
- Добавил в систему: Емельянов Владимир Ильич