Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
SMT-based Test Program Generation for Cache-memory Testing
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Автор:
Корныхин Е.В.
Сборник:
East-West Design&Test Symposium (EWDTS’2009)
Серия:
Symposium EWDTS
Год издания:
2009
Издательство:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства:
Piscataway, NJ, United States
Первая страница:
124
Последняя страница:
128
Добавил в систему:
Корныхин Евгений Валерьевич