Динамика формирования и разрушения центров проскальзывания фазы в узких сверхпроводящих каналахстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 января 2020 г.
Аннотация:Численными методами исследована динамика резитсивного состояния узкого сверхпроводящего канала. Показано, что динамика возникновения новых центров проскальзывания фазы при плавном увеличении тока, текущего через канал и исчезновения существующих центров при плавном уменьшении тока качественно отличаются друг от друга. Если первая связана с развитием локальной неустойчивости, то вторая - с глобальным изменением профили параметра порядка. Оценены характерные времена развития каждого из этих процессов.