Defect ordering and changes in silicon surface morphology under Linearly Polarized Millisecond Pulsed Laser Irradiationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
Местоположение издательства:[Bristol, UK], England
Первая страница:178
Последняя страница:189
Аннотация:Changes in silicon (Si) surface morphology under irradiation by linearly
polarized millisecond laser pulses close to melting threshold were studied experimentally
and theoretically