Study of inverse Ni-based photonic crystal using the microradian x-ray diffraction

Vasilieva, A.V.; Okorokov, A.I.; Grigoriev, S.V.; Grigoryeva, N.A.; Mistonov, A.A.; Sapoletova, N.A.; Napolskii, K.S.; Eliseev, A.A.; Lukashin, A.V.; Tretyakov, Y.D.; Petukhov, A.V.; Byelov, D.; Chernyshov, D.; Bouwman, W.G.

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.

Авторы: Vasilieva A.V., Okorokov A.I., Grigoriev S.V., Grigoryeva N.A., Mistonov A.A., Sapoletova N.A., Napolskii K.S., Eliseev A.A., Lukashin A.V., Tretyakov Y.D., Petukhov A.V., Byelov D., Chernyshov D., Bouwman W.G.
Журнал: Journal of Physics: Conference Series
Том: 247
Год издания: 2010
Издательство: IOP Publishing
Местоположение издательства: [Bristol, UK], England
Первая страница: 012029
DOI: 10.1088/1742-6596/247/1/012029
Добавил в систему: Елисеев Андрей Анатольевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИПМех РАН

Study of inverse Ni-based photonic crystal using the microradian x-ray diffractionстатья