Аннотация:Разработаны методы оптической диагностики апериодических систем, в основу которой положено изучение скейлинговых свойств зондирующего излучения. В качестве исследуемых объектов рассматриваются апериодические решетки с квазикристаллической и стохастической структурой, а также многослойные системы. На основе численных экспериментов показана перспективность использования элементов паттерного анализа.