Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Determination of the thicknesses and depths of subsurface nanostructures using a scanning electron microscope
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
E I.Rau
,
S V.Zaitsev
,
V Yu Karaulov
Журнал:
Technical Physics Letters
Том:
48
Номер:
12
Год издания:
2022
Издательство:
Pleiades Publishing, Ltd
Местоположение издательства:
Road Town, United Kingdom
Первая страница:
18
Последняя страница:
21
DOI:
10.21883/tpl.2022.12.54939.19361
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович