Анализ и распознавание графической информации в наноскопии

Авторы: Синицына О., Филонов А., Яминский И.
Журнал: Наноиндустрия
Номер: 3
Год издания: 2009
Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 14
Последняя страница: 20
Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) позволяет исследовать поверхности твердых тел с разрешением вплоть до атомного [1], при этом могут регистрироваться различные сигналы: в сканирующем туннельном микроскопе (СТМ) измеряется туннельный ток между зондом и образцом [2], в атомно-силовом микроскопе (АСМ) – действующая на иглу сила [3], в ближнепольном оптическом микроскопе – интенсивность оптического излучения [4].
Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА