|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Angular-resolved studies of the contribution of atoms to sputtering of (001) Ni as a function of their depth of originтезисы доклада
- Авторы: Samoilov V.N., Tatur A.E., Dekhtyar K.V., Kovaleva N.A.
- Сборник: Abstracts of 14th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-14) and 6th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART-6), Dresden, Germany, 26-30 July 1999
- Тезисы
- Год издания: 1999
- Первая страница: 34
- Последняя страница: 34
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич