Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование оптических характеристик некристаллических плёнок Ge-Se методом спектроскопической эллипсометрии
статья
Тезисы
Авторы:
Александрович Е.В.
,
Александрович А.Н.
,
Михеев Г.М.
Сборник:
Труды Международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники"
Год издания:
2023
Место издания:
ПОЛИТЕХ-ПРЕСС Санкт-Петербург
Первая страница:
95
Последняя страница:
96
Аннотация:
Целью настоящей работы являлось получение некристаллических плёнок Ge-Se и определение их дисперсионных зависимостей n(λ) и k(λ), а также других оптических параметров прямым экспериментальным методом спектроскопической эллипсометрии.
Добавил в систему:
Александрович Елена Викторовна