|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Методика определения вклада аморфной фазы в нанокомпозитные пленки полупроводников по данным EXAFS-спектроскопии на примере Ge и GaAsстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
- Авторы: Валеев Р.Г., Деев А.Н.
- Журнал: Заводская лаборатория. Диагностика материалов
- Номер: 1
- Год издания: 2005
- Издательство: ТЕСТ-ЗЛ
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 44
- Последняя страница: 46
- Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Zavodskaya_laboratoriya_2005-1_44-46.pdf | 1,3 МБ | 15 мая 2017 [RiVal] |