Исследование атомной структуры тонких пленок ZnS методом EXAFS-спектроскопии

Валеев, Р.Г.; Бельтюков, А.Н.; Гильмутдинов, Ф.З.; Романов, Э.А.; Деев, А.Н.; Кривенцов, В.В.; Мезенцев, Н.А.; Чукавин, А.И.

Авторы: Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Гильмутдинов Ф.З., Романов Э.А., Деев А.Н., Кривенцов В.В., Мезенцев Н.А., Чукавин А.И.
Журнал: Журнал структурной химии
Том: 52
Номер: Приложение
Год издания: 2011
Издательство: Изд-во СО РАН
Местоположение издательства: Новосибирск
Первая страница: 184
Последняя страница: 188
Аннотация: В работе представлены результаты исследования атомной структуры пленок сульфида цинка, полученных методом термического испарения в сверхвысоком вакууме при температурах конденсации –100, 50 и 0 ºС. Для аттестации структурного состояния применялись такие методы, как рентгеновская дифракция, атомная силовая микроскопия. Для исследования локального атомного окружения и извлечения структурной информации (межатомные расстояния, координационные числа) методом EXAFS-спектроскопии на К-крае цинка, использован метод Фурье-преобразования.
Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИПМех РАН

Исследование атомной структуры тонких пленок ZnS методом EXAFS-спектроскопиистатья

Прикрепленные файлы