EXAFS spectroscopy study of the atomic structure of ZnS nanocomposite thin films

Valeev, R.G.; Beltukov, A.N.; Gilmutdinov, F.Z.; Romanov, E.A.; Deev, A.N.; Kriventsov, V.V.; Mezentsev, N.A.; Chukavin, A.I.

Информация о цитировании статьи получена из Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 17 октября 2017 г.

Авторы: Valeev R.G., Beltukov A.N., Gilmutdinov F.Z., Romanov E.A., Deev A.N., Kriventsov V.V., Mezentsev N.A., Chukavin A.I.
Журнал: Journal of Structural Chemistry
Том: 52
Номер: Suppl
Год издания: 2011
Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
Местоположение издательства: Russian Federation
Первая страница: 181
Последняя страница: 185
DOI: 10.1134/S0022476611070249
Аннотация: The atomic structure of zinc sulfide films obtained by thermal evaporation in ultrahigh vacuum at condensation temperatures of –100°C, –50°C, and 0°C was investigated. Structural states were assessed by means of X-ray diffraction and atomic force microscopy. Fourier transform was used to study the local atomic environment and acquire the structural information (interatomic distances and coordination numbers) by zinc K edge EXAFS spectroscopy.
Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИПМех РАН

EXAFS spectroscopy study of the atomic structure of ZnS nanocomposite thin filmsстатья Перевод

Прикрепленные файлы