Исследование ростовых дефектов в синтетических алмазах методом рентгеновской топо-томографии

Авторы: Анисимов Н.П., Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Дьячкова И.Г., Асадчиков В.Е., Ширяев А.А.
Сборник: Успехи в химии и химической технологии
Серия: У78
Том: 36
Тезисы
Год издания: 2022
Место издания: РХТУ им. Д.И. Менделеева Москва
Первая страница: 19
Последняя страница: 20
Аннотация: В работе c применением лабораторного источника рентгеновского излучения исследовались синтетические монокристаллы алмаза кубооктаэдрического габитуса, выращенные методом HPHT вблизи линии равновесия алмаз-графит. Получены двумерные и трехмерные дифракционные изображения в геометрии Лауэ пучков ростовых дислокаций. Проведен качественный анализ расположения таких линейных дефектов.
Добавил в систему: Анисимов Николай Петрович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА