|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Characterizing ZnS x Se(1 − x) films of various compositions via EXAFS spectroscopyстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 17 октября 2017 г.
- Авторы: Beltyukov A.N., Valeev R.G., Romanov E.A., Kriventsov V.V.
- Журнал: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
- Том: 77
- Номер: 9
- Год издания: 2013
- Издательство: Allerton Press Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 1137
- Последняя страница: 1140
- DOI: 10.3103/s1062873813090050
- Аннотация: ZnSxSe(1 – x) (x = 0.36, 0.68, and 0.73) films of various compositions are prepared by the thermal deposition of a mixture of zinc sulfide and zinc selenide powders in ultrahigh vacuum. It is shown that the produced films and the source materials are close in chemical composition. The crystal structure of the films is studied via Xray diffraction. The local atomic environment of selenium and zinc atoms is studied by means of EXAFS spectroscopy.
- Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | BRAS_2013-77-9_1137-1140.pdf | 184,1 КБ | 23 мая 2017 [RiVal] |