|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
X-Ray Reflection Imaging of Inclined and Obliquely Illuminated Objectsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 15 февраля 2024 г.
- Авторы: Artyukov I.A., Busarov A.S., Popov N.L., Vinogradov A.V.
- Сборник: ICXRL 2016: X-Ray Lasers 2016
- Серия: Springer Proceedings in Physics
- Год издания: 2018
- Издательство: Springer International Publishing
- Местоположение издательства: New York
- Первая страница: 243
- Последняя страница: 250
- DOI: 10.1007/978-3-319-73025-7_36
- Аннотация: It is well known that contrast high-resolution images are usually produced with normal incidence optics and samples observed normally to their surface. However, a number of recent X-ray experiments from 0.1 to 10 keV demonstrate a quest for imaging of slanted objects and the objects illuminated at grazing angles. A brief survey of previous studies, theoretical consideration, simulation, and application prospects of this new imaging technology is presented.
- Добавил в систему: Артюков Игорь Анатольевич