Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Сканирующий туннельный микроскоп – измерительное средство наноэлектроники
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Бычихин С.А.
,
Галлямов М.О.
,
Потемкин В.В.
,
Степанов А.В.
,
Яминский И.В.
Журнал:
Измерительная техника
Номер:
4
Год издания:
1998
Издательство:
Стандартинформ
Местоположение издательства:
М.
Первая страница:
58
Последняя страница:
61
Добавил в систему:
Степанов Александр Викторович