ТОЧНОСТИ И СТАНДАРТЫ ОЦЕНИВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТОВ В ИЗОБРАЖЕНИЯХ С ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ Научная конференция <<ЛОМОНОСОВСКИЕ ЧТЕНИЯ>>. Секция физики. Март-апрель 2024 года. Сборник тезисов докладов

Авторы: Терентьев Е.Н., Махнюк М.В., Балабан Е.Д., Романов Д.Р., Шацков И.А.
Сборник: Научная конференция «ЛОМОНОСОВСКИЕ ЧТЕНИЯ». Сек- ция физики., Сборник тезисов докладов / Под ред. В.В. Белокурова. — М., Физический факультет МГУ, 2024 г. 286 c
Тезисы
Год издания: 2024
Место издания: Физический факультет МГУ Москва, Физический факультет МГУ
Первая страница: 155
Последняя страница: 159
Аннотация: Стандарты по высокоточному оцениванию параметров объектов нужны дистанционных исследованиях при анализе космических изображений и в литографическом оборудовании для производства памяти и процессоров. Для этого в Мат. Обеспечении Измерительно Вычислительных Систем (МО ИВС) предлагаем использовать методы Градиентной Морфологии (ГМ) и методы Математического Микроскопа (ММ).
Добавил в систему: Терентьев Евгений Николаевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА