Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Computer Analysis of the AFM Images of the Nanopore System on the SiO2/Si Structure Sur-face, Obtained by Zn Ion Im-plantation
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 10 января 2019 г.
Авторы:
Sokolov V.N.
,
Razgulina O.V.
,
Privesentsev V.V.
,
Petrov D.V.
Журнал:
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
Том:
78
Номер:
9
Год издания:
2014
Издательство:
Allerton Press Inc.
Местоположение издательства:
United States
Первая страница:
859
Последняя страница:
863
DOI:
10.3103/S1062873814090287
Добавил в систему:
Соколов Вячеслав Николаевич