|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Femtosecond X-Ray Free-Electron Lasers: A New Tool for Studying Nanocrystals and Single Macromoleculesстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 2 ноября 2014 г.
- Авторы: Krupyanskii Yu F., Balabaev N.K., Petrova T.E., Sinitsyn D.O., Gryzlova E.V., Tereshkina K.B., Abdulnasyrov E.G., Stepanov A.S., Lunin V.Yu, Grum-Grzhimailo A.N.
- Журнал: Russian Journal of Physical Chemistry B
- Том: 8
- Номер: 4
- Год издания: 2014
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 445
- Последняя страница: 456
- DOI: 10.1134/S1990793114040046
- Аннотация: A brief overview of the design of femtosecond X-ray free-electron lasers (XFEL), characteristics of the emitted X-ray pulses, and potentialities of XFEL are presented. A concise analysis of the problems in modeling X-ray scattering patterns produced by ultraintense radiation sources is given.
- Добавил в систему: Грум-Гржимайло Алексей Николаевич