|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Electrical Noise in a TES as a Resistively Shunted Conducting Junctionстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Kozorezov A., Golubov A.A., Martin D.D.E, de Korte P.A.J, Lindeman M.A., Hijmering R.A., van der Kuur J., Hoevers H.F.C, Gottardi L., Kupriyanov M.Y., Wigmore J.K.
- Журнал: Journal of Low Temperature Physics
- Том: 167
- Номер: 3-4
- Год издания: 2012
- Издательство: Springer Verlag
- Местоположение издательства: Germany
- Первая страница: 108
- Последняя страница: 113
- DOI: 10.1007/s10909-012-0489-7
- Аннотация: We present results of the analysis of electrical noise in a transition edge sensor (TES) as a resistively shunted conducting junction (the RSJ model). We derive an expression for the spectral density of voltage fluctuations taking into account weak superconductivity of a TES. We analyse and discuss differences in voltage noise in a TES compared to the familiar situation for the Josephson junction. The spectral density of voltage noise in the RSJ model has a unique analytical structure and cannot be reduced to the expression for the nonlinear Johnson noise near equilibrium.
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|