ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ ОБЛАСТЕЙ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ В СПЛАВАХ ПО НЕЙТРОННЫМ ДИФРАКЦИОННЫМ ДАННЫМ

Ержанов, Б.; Бобриков, И.А.; Балагуров, А.М.

Авторы: Ержанов Б., Бобриков И.А., Балагуров А.М.
Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Том: 9
Год издания: 2024
Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 12
Последняя страница: 24
Аннотация: C целью определения распределения по размерам структурно упорядоченных кластеров, дисперсно встроенных в структурно неупорядоченную матрицу сплава, выполнен анализ дифрактограмм сплава Fe74Al26, полученных на нейтронном дифрактометре высокого разрешения. Для этого использовано обобщение метода Шеррера, основанное на анализе профилей дифракционных пиков, определения ширин пиков на высотах 1/5 и 4/5 от максимума и предположения о справедливости гамма-распределения для размеров кластеров (метод Пелашека). Проведено сравнение результатов, получаемых методами Шеррера, Вильямсона–Холла и Пелашека, и показано их хорошее соответствие друг другу. Предложен алгоритм расчёта функции логарифмически-нормального распределения размеров кластеров/частиц. Экспериментальные данные были получены на нейтронном дифрактометре по времени пролета, в связи с чем их анализ проведен для двух вариантов переменной сканирования: в кристаллическом (прямом) (d-шкала) и обратном (H-шкала) пространствах, и получены оценки возможных систематических ошибок. Сделан вывод, что определяемые таким образом средние размеры обладают необходимой степенью устойчивости, т.е. слабо зависят от применяемой переменной сканирования и полного числа экспериментальных точек.
Добавил в систему: Балагуров Анатолий Михайлович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИПМех РАН

ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ ОБЛАСТЕЙ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ В СПЛАВАХ ПО НЕЙТРОННЫМ ДИФРАКЦИОННЫМ ДАННЫМстатья

Прикрепленные файлы