Аннотация:Фрагменты кристаллов сульфида железа изучены методом рентгеноструктурного анализа с использованием дифрактометра Xcalibur Oxford Diffraction, оснащенного двухкоординатным CCD-детектором. Полученные значения параметра а кубических элементарных ячеек находились в диапазоне 5.413–5.420 Å. Таким образом, несмотря на различие в морфологии, все индивиды представляют собой пирит. Для исследования элементного состава использовался портативный рентгенофлуоресцентный анализатор X-MET 7500 производства Oxford Instruments и настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom-World B.V. По данным рентгенофлуоресцентного анализа все кристаллы имеют чистый состав, свободный от примесей, и отвечает формуле FeS2. Это согласуется с более детальными определениями в локальных зонах, выполненными на сканирующем микроскопе. Содержание железа в кристаллах варьирует от 43,89 до 45,18%, серы - от 53,59-56,11%. При детальном исследовании кристаллов на сканирующем электронном микроскопе на гранях пиритовых полиагрегатов выявлена своеобразная штриховка. Эта интересная деталь может являться следствием изменения условий минералообразования и поэтому требует дальнейших специальных исследований.