On the synthesis of circuits admitting complete fault detection test sets of constant length under arbitrary constant faults at the outputs of the gatesстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 31 октября 2014 г.
Аннотация:We describe a method of construction of circuits over some special basis admitting complete tests detecting arbitrary constant faults at the outputs of gates and having length not exceeding 4.