|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Возможности использования «изгибных интерференционных полос» для измерения предельно слабых локальных деформационных полей на поверхности монокристаллов. Сборник трудов Первого Российского кристаллографического конгрессастатья
- Авторы: Суворов Э.В., Смирнова И.А.
- Сборник: Сборник трудов Первого Российского кристаллографического конгресса
- Год издания: 2016
- Первая страница: 139
- Последняя страница: 139
- Аннотация: Предложен новый высокочувствительный метод для исследования локальных деформаций поверхности, обусловленных дефектами кристаллов. Метод основан на анализе формы «интерференционных деформационных полос» в геометрии брэгговской дифракции рентгеновских лучей. Удается количественно измерять радиусы локальных изгибов кристаллографических плоское гей от десятков до нескольких сотен метров.
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич