Возможности использования «изгибных интерференционных полос» для измерения предельно слабых локальных деформационных полей на поверхности монокристаллов. Сборник трудов Первого Российского кристаллографического конгрессастатья
Аннотация:Предложен новый высокочувствительный метод для исследования локальных деформаций поверхности, обусловленных дефектами кристаллов. Метод основан на анализе формы «интерференционных деформационных полос» в геометрии брэгговской дифракции рентгеновских лучей. Удается количественно измерять радиусы локальных изгибов кристаллографических плоское гей от десятков до нескольких сотен метров.