Аннотация:Разработан метод изготовления одноэлектронного транзистора из высоколегированного мышьяком кремния на изоляторе (КНИ). Легирующая примесь с концентрацией более 1020 см-3 была сосредоточена в верхнем слое кремния толщиной 55 нм. Формирование элементов структуры одноэлектронного транзистора происходило с помощью серии последовательных процессов анизотропного и изотропного травления во фторсодержащей плазме с промежуточным контролем электрических параметров. Измерены вольтамперные и модуляционные характеристики экспериментальных структур при температуре 4,2 К. Дан анализ возможности использования кремниевого одноэлектронного транзистора в качестве сверхчувствительного зарядового/полевого сенсора для широкого круга задач.