Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Анализ оксидных наноструктур вольфрама методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
статья
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Алов Н.В.
,
Лазов М.А.
,
Ищенко А.А.
Журнал:
Нанотехника
Номер:
3
Год издания:
2013
Первая страница:
75
Последняя страница:
78
Добавил в систему:
Алов Николай Викторович