|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Сравнительный анализ методов измерения потенциалов зарядки диэлектриков при электронном облучении в сканирующем электронном микроскопестатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Рау Э.И., Татаринцев А.А., Купреенко С.Ю., Зайцев С.В., Подбуцкий Н.Г.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 10
- Год издания: 2017
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 69
- Последняя страница: 76
- Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Poverhnost2017.pdf | 5,1 МБ | 13 февраля 2018 [KupreenkoSU] |