|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Analysis of two methods of measurement of surface potential of insulators in SEM: electron spectroscopy and X-ray spectroscopy methodsстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 16 ноября 2017 г.
- Авторы: Belhaj M., Jbara O., Filippov M.N., Rau E.I., Andrianov M.V.
- Журнал: Applied Surface Science
- Том: 177
- Номер: 1-2
- Год издания: 2001
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 58
- Последняя страница: 65
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович