The effect of contamination of dielectric target surfaces under electron irradiationстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 ноября 2017 г.
Аннотация:The influence of the contamination film formed under the electron bombardment of the sample surface on the conditions of experimental studies using analytical electron-probe apparatus (scanning electron microscopes, X-ray microanalyzers) is considered. The accompanying artifacts, namely the decreased effective value of the secondary electron emission coefficient and the shifted value of the second crossover energy of primary electrons are calculated.