Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 12 июля 2017 г.
Аннотация:Рассмотрены возможности рентгеновской секционной топографии высокого разрешения, исполь-
зующей геометрию интерференционных полос для выявления особенностей упругих полей дефек-
тов кристаллической решетки. На примере дислокаций демонстрируются механизмы дифракции
рентгеновского волнового поля на упругих искажениях решетки. Другой интереснейший объект –
микродефекты в кремнии. Метод секционной топографии в данном случае является практически
единственным методом выявления очень слабых деформаций, связанных с микродефектами.