A NONCONTACT ELECTRON-PROBE METHOD FOR MEASURING THE DIFFUSION LENGTH AND THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS IN SEMICONDUCTORSстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 ноября 2017 г.