|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
A NOVEL METHOD OF DETERMINING SEMICONDUCTOR PARAMETERS IN EBIC AND SEBIV MODES OF SEMстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 ноября 2017 г.
- Авторы: Zhu S.Q., Yang F.H., Rau E.I.
- Журнал: Semiconductor Science and Technology
- Том: 18
- Номер: 4
- Год издания: 2003
- Издательство: IOP Publishing
- Местоположение издательства: [Bristol, UK], England
- Первая страница: 361
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович