|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМтезисы доклада
- Авторы: Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
- Сборник: Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
- Тезисы
- Год издания: 2011
- Место издания: Черноголовка
- Первая страница: 43
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович