Влияние отжига на микроволновое магнетосопротивление в тонких пленках Ge0.96Mn0.04статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
Аннотация:Установлено, что отжиг полученных ионной имплантацией пленок Ge0.96Mn0.04 толщиной 120 нм приводит
к увеличению микроволнового удельного сопротивления и смене механизма сбоя фазы носителей заряда.
Влияние отжига на микроволновые транспортные свойства тонких пленок обусловлено диффузионно-
контролируемой агрегацией примесных диспергированных ионов Mn2+ в кластеры Ge3Mn5.