|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Метод определения технического состояния микросхемы на основании идентификации внутренних параметров тестовой структурыстатья
- Авторы: Абрамешин А.Е., Андреевская Т.М., Пашев Р.Ю.
- Сборник: Инновационные информационные технологии. Материалы международной научно-практической конференции, Прага, 22-26 апреля 2013г. Том 3
- Серия: Инновационные информационные технологии
- Том: 3
- Год издания: 2013
- Место издания: МИЭМ НИУ ВШЭ Москва
- Первая страница: 527
- Последняя страница: 530
- Добавил в систему: Осадченко Николай Владимирович