|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Особенности туннельно-спектроскопических измерений в конфигурации воз-душного сканирующего туннельного микроскопа. Журнал технической физикистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Васильев С.Ю., Денисов А.В.
- Журнал: Журнал технической физики
- Том: 70
- Номер: 1
- Год издания: 2000
- Издательство: Наука
- Местоположение издательства: СПб.
- Первая страница: 100
- Последняя страница: 106
- Добавил в систему: Васильев Сергей Юрьевич