Исследование квазидвумерных и квазитрехмерных упорядоченных пористых структур методами малоугловой дифракции в скользящей геометриистатьяИсследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 сентября 2018 г.
Аннотация:Метод малоуглового рассеяния синхротронного излучения в скользящей геометрии (GISAXS) впервые применен для исследования структуры приповерхностных слоев тонких металлических инвертированных опалов. На основании численной модели процесса рассеяния выделены вклады форм-фактора и структурного фактора в картину малоугловой дифракции. Взаимодополняющее использование SAXS- и GISAXS-методик позволило получить независимую информацию об объемных и поверхностных свойствах образцов, определить тип дефектов исследуемых структур. Результаты измерений были верифицированы с помощью атомно-силовой микроскопии. Работа была выполнена при финансовой поддержке РФФИ проектов 14-22-01113 офи\_м и 16-32-00621 мол\_а (И.С.Д. и А.А.М). А также при поддержке German-Russian Interdisciplinary Science Centre (проект Р-2013b10). DOI: 10.21883/FTT.2017.12.45245.071