Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization of ultrathin amorphous and crystalline films by means of specular reflection under grazing-incidence X-ray diffraction conditions
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 сентября 2015 г.
Авторы:
Mukhamedzhanov E.Kh
,
Imamov R.M.
,
Bushuev V.A.
,
Oreshko A.P.
Сборник:
Abstr. 6th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “XTOP-2002”
Тезисы
Год издания:
2002
Место издания:
Grenoble and Aussois, France
Первая страница:
175
Последняя страница:
175
Добавил в систему:
Орешко Алексей Павлович